芯片测试系统
基本信息
| 申请号 | CN201620664595.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN205826813U | 公开（公告）日 | 2016-12-21 |
| 申请公布号 | CN205826813U | 申请公布日 | 2016-12-21 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 万利剑 | 申请（专利权）人 | 达凯（上海）电子科技有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 201000 上海市浦东新区郭守敬路498号19号楼205A室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型涉及一种芯片测试系统，该系统用于测试芯片的S参数，该系统包括射频信号产生模块、RF功率检波模块、直流电压读取模块，所述射频信号产生模块用于产生芯片测试用的射频信号，所述?RF功率检波模块用于将芯片产生的RF信号转换为直流电压，所述直流电压读取模块用于读取RF功率检波模块产生的直流电压，并将直流电压换算为S参数。本实用新型能够实现低成本的芯片测试。 |
