一种贯穿空腔结构硅片的加工方法

基本信息

申请号 CN201810075852.5 申请日 -
公开(公告)号 CN110078017B 公开(公告)日 2021-11-05
申请公布号 CN110078017B 申请公布日 2021-11-05
分类号 B81C1/00(2006.01)I;B81C3/00(2006.01)I 分类 微观结构技术〔7〕;
发明人 李响 申请(专利权)人 沈阳硅基科技有限公司
代理机构 - 代理人 -
地址 110000辽宁省沈阳市浑南区沈阳出口加工区浑南东路15-22号
法律状态 -

摘要

摘要 一种贯穿空腔结构硅片的加工方法,其特征在于:其依次按照下述要求进行操作:对硅片或图形片进行离子注入;植入假底,使用硅片与图形片键合;磨抛,减薄图形片至露出图形的深度;键合;剥离假底。相对于现有技术而言,本发明操作规范,产品质量能够得到有效保证;且产品的性价比高,综合技术效果优良;其具有可预期的较为巨大的经济价值和社会价值。