一种X光探测器结构及其工作方法
基本信息
申请号 | CN202010401368.4 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN111522052A | 公开(公告)日 | 2020-08-11 |
申请公布号 | CN111522052A | 申请公布日 | 2020-08-11 |
分类号 | G01T1/20(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 孙磊;刘柱;王伟;李岩 | 申请(专利权)人 | 奕瑞新材料科技(太仓)有限公司 |
代理机构 | 苏州市方略专利代理事务所(普通合伙) | 代理人 | 刘纯 |
地址 | 215400江苏省苏州市太仓港经济技术开发区兴港路33号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 一种X光探测器结构及其工作方法,包括探测器芯片、正面闪烁体、背面闪烁体、基板、固定结构;所述探测器芯片包括正入射面、背入射面;所述正入射面的感光区贴合正面闪烁体,所述背入射面的感光区贴合背面闪烁体;所述探测器芯片的非感光区贴合在基板上,所述探测器芯片的一端或者两端设置有信号传输区域并且通过绑线将信号传输区域传导至基板。本发明所述的X光探测器结构及其工作方法,结构设计合理,工作方法简单,采用双面入射的方式,提高了X光探测器整体闪烁体的厚度,同时不减少闪烁体光输出,并且不增加探测器芯片的面积,保证信号大小,提高成像质量,应用前景广泛。 |
