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一种提高边缘通道响应的X光探测器

基本信息

申请号	CN202020786290.8	申请日	-
公开（公告）号	CN212341470U	公开（公告）日	2021-01-12
申请公布号	CN212341470U	申请公布日	2021-01-12
分类号	G01T1/202(2006.01)I;H01L31/115(2006.01)I	分类	测量；测试;
发明人	孙磊;刘柱;王伟	申请（专利权）人	奕瑞新材料科技（太仓）有限公司
代理机构	苏州市方略专利代理事务所（普通合伙）	代理人	刘纯
地址	215400江苏省苏州市太仓港经济技术开发区兴港路33号
法律状态	-

摘要

一种提高边缘通道响应的X光探测器，所述X光探测器由闪烁体和探测器芯片组成；所述闪烁体包括一维闪烁体、二维闪烁体，所述一维闪烁体由若干个闪烁体通道组成一维阵列，所述二维闪烁体由若干个闪烁体通道组成二维阵列；所述闪烁体通道包括边缘通道、中间通道，所述边缘通道设置在闪烁体两侧边缘，每个中间通道等距离设置在边缘通道之间；每个所述中间通道的闪烁体体积和尺寸都相同，所述边缘通道的闪烁体体积大于中间通道5%‑50%。本实用新型所述的提高边缘通道响应的X光探测器，结构设计合理，通过对探测器芯片和闪烁体边缘通道的设计，提高边缘通道的光响应，增加边缘通道的信号，提高不同通道之间信号的一致性，提高成像质量，应用前景广泛。