一种测试电路及其构成的集成电路和测试设定方法
基本信息
申请号 | CN202010172132.8 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN111175645B | 公开(公告)日 | 2021-03-16 |
申请公布号 | CN111175645B | 申请公布日 | 2021-03-16 |
分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 傅科成;黄小伟;夏晓亮 | 申请(专利权)人 | 杭州芯耘光电科技有限公司 |
代理机构 | - | 代理人 | - |
地址 | 311100浙江省杭州市余杭区余杭经济开发区超峰东路2号南楼511室 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明提供一种测试电路,应用于带有电源端(VCC)、地端(GND)、输入电压端口IN1、输入电压端口IN2的集成电路,包括SR锁存器1、计数器、串行/并行单元、比较器CMP1、比较器CMP2,所述SR锁存器1输入端分别接所述比较器CMP1、比较器CMP2;所述比较器CMP1、比较器CMP2输入端均分别连接电源端(VCC)、输入电压端口IN1;所述SR锁存器1输出端与所述计数器输入端连接,所述计数器输出端与所述串行/并行单元输入端连接;所述串行/并行单元输出计数信号。通过对芯片的部分输入端口加入特定的信号,从而激活内置的测试模式设定电路,而不需要增加额外的ADC电路,可以节省成本且降低芯片的复杂度。 |
