一种测试电路及其构成的集成电路和测试设定方法专利查询专利号|摘要-满商公司网

一种测试电路及其构成的集成电路和测试设定方法

基本信息

申请号	CN202010172132.8	申请日	-
公开（公告）号	CN111175645B	公开（公告）日	2021-03-16
申请公布号	CN111175645B	申请公布日	2021-03-16
分类号	G01R31/28(2006.01)I	分类	测量；测试;
发明人	傅科成;黄小伟;夏晓亮	申请（专利权）人	杭州芯耘光电科技有限公司
代理机构	-	代理人	-
地址	311100浙江省杭州市余杭区余杭经济开发区超峰东路2号南楼511室
法律状态	-

摘要

本发明提供一种测试电路，应用于带有电源端（VCC）、地端（GND）、输入电压端口IN1、输入电压端口IN2的集成电路，包括SR锁存器1、计数器、串行/并行单元、比较器CMP1、比较器CMP2，所述SR锁存器1输入端分别接所述比较器CMP1、比较器CMP2；所述比较器CMP1、比较器CMP2输入端均分别连接电源端（VCC）、输入电压端口IN1；所述SR锁存器1输出端与所述计数器输入端连接，所述计数器输出端与所述串行/并行单元输入端连接；所述串行/并行单元输出计数信号。通过对芯片的部分输入端口加入特定的信号，从而激活内置的测试模式设定电路，而不需要增加额外的ADC电路，可以节省成本且降低芯片的复杂度。