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低温电学测量插拔型样品托

基本信息

申请号 CN201720249559.7 申请日 -
公开（公告）号 CN206657033U 公开（公告）日 2017-11-21
申请公布号 CN206657033U 申请公布日 2017-11-21
分类号 G01R1/04(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 丛君状;申世鹏;邢健 申请（专利权）人 多场低温科技（北京）有限公司
代理机构 北京易正达专利代理有限公司 代理人 多场低温科技（北京）有限公司
地址 100190 北京市海淀区中关村东路世纪科贸大厦d座603
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型涉及一种低温电学测量插拔型样品托，包括电学样品托板，所述电学样品托板上设有样品安装区，所述样品安装区内设有贯穿所述电学样品托板的非金属导热体，所述电学样品托板的底部设有与所述非金属导热体相接触的导热托板，所述电学样品托板与导热托板之间通过可插拔结构插拔连接。本实用新型通过在电学样品托板的中心嵌入非金属导热体(蓝宝石片)，然后让样品和非金属导热体接触，非金属导热体和导热底架接触，导热底架与冷源接触，形成复合样品托，可实现实际温度与冷源的温差极小，极大地节约了测量时间以及提高了测量精度。