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一种基于多层感知器神经网络的电路良率分析方法

基本信息

申请号	CN202111066024.3	申请日	-
公开（公告）号	CN114065682A	公开（公告）日	2022-02-18
申请公布号	CN114065682A	申请公布日	2022-02-18
分类号	G06F30/367（2020.01）I;G06N3/04（2006.01）I;G06N3/08（2006.01）I;G06F119/02（2020.01）N	分类	计算；推算；计数;
发明人	张立军;严雨灵;张重达;马利军;娄圆	申请（专利权）人	苏州宽温电子科技有限公司
代理机构	苏州吴韵知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	王铭陆
地址	215000江苏省苏州市工业园区金鸡湖大道99号苏州纳米城1幢606-4室
法律状态	-

摘要

本发明公开了一种基于多层感知器神经网络的电路良率分析方法，包括步骤：一、均匀分布采样：针对电路器件的各项工艺变化参数，采用均匀分布采样的方法得到总量样本；二、蒙特卡罗仿真：采用蒙特卡洛仿真方法对总量样本进行电路仿真，获得电路失效样本；三、重要性采样：统计电路失效样本各参数的均值，并将其作为电路失效区域的中心点，以该点为原点在电路失效区域进行高斯分布采样得到重要样本；四、多层感知器神经网络筛选：将重要样本输入预先训练好的多层感知器神经网络进行筛选，得到电路失效的采样点；五、电路良率计算：采用重要性采样公式计算出电路良率。本发明能够提供快速且准确的良率验证分析，在缩短项目周期的同时提升产品可靠性。