一种生长指令检查方法及装置
基本信息
申请号 | CN201711182035.1 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN107895102B | 公开(公告)日 | 2021-08-17 |
申请公布号 | CN107895102B | 申请公布日 | 2021-08-17 |
分类号 | G16C20/20 | 分类 | 物理 |
发明人 | 吴文俊;颜建;胡双元;张念站;朱忻 | 申请(专利权)人 | 苏州矩阵光电有限公司 |
代理机构 | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 | 代理人 | 马永芬 |
地址 | 215614 江苏省苏州市张家港市凤凰镇凤凰科创园D栋 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开了一种生长指令检查方法及装置,其中方法包括:提取待检查MOCVD生长指令中的第一特征字符;根据第一特征字符进行模拟生长得到生长结构;将生长结构与目标结构进行比较,得到比较结果;根据比较结果确定待检查MOCVD生长指令是否正确。由于将特征字符提取出来并进行模拟生长得到模拟的生成结构,与目标结果对比从而检查MOCVD生长指令的正确性,相较于现有技术中的人工对生长指令的多次校对,节省了时间成本,并降低了生长失败的风险,提高了工作效率。 |
