一种薄膜方块电阻的测量装置
基本信息
| 申请号 | CN202120147268.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN215066955U | 公开（公告）日 | 2021-12-07 |
| 申请公布号 | CN215066955U | 申请公布日 | 2021-12-07 |
| 分类号 | G01R27/14（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 来华杭;郭峰 | 申请（专利权）人 | 浙江上方电子装备有限公司 |
| 代理机构 | 杭州合信专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 沈自军 |
| 地址 | 312366浙江省绍兴市滨海新城畅和路7号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种薄膜方块电阻的测量装置，包括：支架；安装在所述支架上，且转动速度与待测薄膜行进速度相匹配的转动辊；用于驱动所述转动辊转动的驱动装置；设置在所述转动辊上的至少一组测量探头，同属一组的测量探头沿平行于转动辊轴线方向布置于转动辊的外周面，各测量探头具有接触待测薄膜的测量状态；作用在所述测量探头与转动辊之间，使测量探头在测量状态下抵压待测薄膜的弹性件。本申请提供的薄膜方块电阻测量装置，适用于在线检测流水线上的薄膜产品的方块电阻。 |
