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一种GIS内部触头接触不良的模拟装置及红外校准方法

基本信息

申请号 CN201911114202.8 申请日 -
公开（公告）号 CN111024233B 公开（公告）日 2021-10-08
申请公布号 CN111024233B 申请公布日 2021-10-08
分类号 G01J5/00（2006.01）I;G01R31/54（2020.01）I 分类 测量；测试;
发明人 高凯;陈洪岗;黄华;卢有龙;金立军;乔辛磊;马利 申请（专利权）人 华东电力试验研究院有限公司
代理机构 上海科盛知识产权代理有限公司 代理人 翁惠瑜
地址 200122上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区源深路1122号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及一种GIS内部触头接触不良的模拟装置及红外校准方法，所述模拟装置包括壳体以及设置于壳体内的静导体、动导体、非标梅花触头、绝缘子和触头绝缘支架，所述静导体一端、非标梅花触头、动导体一端依次连接，构成导电回路，且所述静导体与非标梅花触头固定连接，动导体与非标梅花触头可拆卸连接，所述静导体另一端通过绝缘子与壳体连接，所述动导体另一端通过绝缘子与壳体连接，所述触头绝缘支架套在非标梅花触头上并与壳体连接，所述非标梅花触头为弹簧中径可变的梅花触头。与现有技术相比，本发明代替GIS母线筒来进行故障模拟与测试，并可进行红外校准实验，提高红外检测的准确度，达到便捷地检测GIS故障的目的。