曲率测量方法、系统、可读存储介质及计算机设备

基本信息

申请号 CN202210506837.8 申请日 -
公开(公告)号 CN114608482A 公开(公告)日 2022-06-10
申请公布号 CN114608482A 申请公布日 2022-06-10
分类号 G01B11/255(2006.01)I 分类 测量;测试;
发明人 倪旭东;黄文勇;马铁中 申请(专利权)人 南昌昂坤半导体设备有限公司
代理机构 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人 -
地址 330096江西省南昌市南昌高新技术产业开发区艾溪湖北路688号中兴科技园8号厂房一层
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供一种曲率测量方法、系统、可读存储介质及计算机设备,方法包括:通过激光发射器沿预定方向照射于待测晶圆的预设照射位置,并控制待测晶圆进行自转,并获取到待测晶圆整圈的偏移量数据,根据偏移量数据计算出表面倾斜量;对两标准校准片分别按照上述步骤进行处理,以得到两标准校准片的偏移量数据,根据该偏移量数据计算出对应的基值及校准系数;根据基值、校准系数以及表面倾斜量计算得到待测晶圆的曲率值。本发明通过激光发射器照射在转动或自转状态下的待测晶圆,得到整圈的偏移量数据,计算出对应的表面倾斜量,利用两标准校准片来获得基值和标准系数,利用表面倾斜量、两基值和标准系数计算出待测晶圆的曲率值,节省计算成本。