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LCOS驱动芯片测试装置及其测试方法

基本信息

申请号	CN200410084488.7	申请日	-
公开（公告）号	CN1779478A	公开（公告）日	2006-05-31
申请公布号	CN1779478A	申请公布日	2006-05-31
分类号	G01R31/28(2006.01)	分类	测量；测试;
发明人	印义言;张敏;王立辉;印义中	申请（专利权）人	上海华园微电子技术有限公司
代理机构	上海智信专利代理有限公司	代理人	上海华园微电子技术有限公司
地址	200233上海市宜山路900号A区六楼
法律状态	-

摘要

本发明涉及一种LCOS驱动芯片测试装置，包括：被测LCOS驱动芯片(1)，微控制器(2)，个人计算机(3)；计算机(3)中的串行接口RS232(31)与微控制器(2)的串行接口RS232(28)相连；微控制器(2)的I²C串行总线接口(22)与被测LCOS驱动芯片(1)的I²C串行总线接口(18)相连，并将测试命令通过命令字存储器(17)传输到控制电路(15)，控制电路(15)对测试命令进行分析并对测试命令进行操作，通过图象及系统信号输出电路(14)输回到被测LCOS驱动芯片(1)的I²C串行总线接口(18)；微控制器(2)的并行接口(27)与被测LCOS驱动芯片(1)的图象及系统信号输入电路(11)相连；有益效果是：测试设备价格低，测试速度快，降低了测试成本。