LCOS显示芯片的测试电路
基本信息
| 申请号 | CN200510025739.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN1862322A | 公开（公告）日 | 2006-11-15 |
| 申请公布号 | CN1862322A | 申请公布日 | 2006-11-15 |
| 分类号 | G02F1/133(2006.01);G09G3/00(2006.01) | 分类 | 光学; |
| 发明人 | 印义言;张敏;印义中 | 申请（专利权）人 | 上海华园微电子技术有限公司 |
| 代理机构 | 上海智信专利代理有限公司 | 代理人 | 上海华园微电子技术有限公司 |
| 地址 | 200233上海市宜山路900号A区六楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及一种LCOS显示芯片的测试电路，被测LCOS显示芯片(4)；还包括PC机(5)通过RS232串行接口(6)输出测试命令给微处理器CPU(2)，微处理器CPU(2)控制EEPROM程序存储器(1)的测试程序和EEPROM数据存储器(7)的测试数据以及所需要测试的时钟信号CLK，经测试接口电路(3)送到被测LCOS显示芯片(4)，先将被测LCOS显示芯片(4)复位、SRAM阵列(42)及内部存储器清零，然后LCOS显示芯片(4)执行测试程序进行测试；测试结果通过测试接口电路(3)反馈到微处理器CPU(2)并与EEPROM数据存储器(7)中保存的相应的预期测试结果加以比较经RS232串行接口(6)显示在PC机(5)上；有益效果是：测试设备价格低，测试速度快，降低了测试成本。 |
