光学薄膜测量设备
基本信息
申请号 | CN202030827703.8 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN306776138S | 公开(公告)日 | 2021-08-24 |
申请公布号 | CN306776138S | 申请公布日 | 2021-08-24 |
分类号 | - | 分类 | - |
发明人 | 毛宗钦;刘军凯;孙思华 | 申请(专利权)人 | 睿励科学仪器(上海)有限公司 |
代理机构 | 北京启坤知识产权代理有限公司 | 代理人 | 赵晶 |
地址 | 201203 上海市浦东新区华佗路68号6幢 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 1.本外观设计产品的名称:光学薄膜测量设备。2.本外观设计产品的用途:本外观设计产品是用于集成电路生产线工艺检测。3.本外观设计产品的设计要点:在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片:立体图1。5.本外观设计产品的底面为使用时不容易看到或看不到的部位,省略仰视图。 |
