一种ADC通道校准方法
基本信息
| 申请号 | CN202110652751.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113315515A | 公开（公告）日 | 2021-08-27 |
| 申请公布号 | CN113315515A | 申请公布日 | 2021-08-27 |
| 分类号 | H03M1/10（2006.01）I | 分类 | 基本电子电路; |
| 发明人 | 刘振;吴华意;王西刚;刘睿恒 | 申请（专利权）人 | 武汉拓宝科技股份有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 430075湖北省武汉市东湖高新区高新大道999号未来城龙山创新园一期F1栋1001单元 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种ADC通道校准方法，方法包括：在单片机的第一ADC通道上外接参考电路；在所述第一ADC通道上采集所述参考电路对应的参考电压和参考量化值；开启所述单片机上其余各个ADC通道，分别测得各个ADC通道对应的量化值，以计算得到各个ADC通道的校准电压。本发明实施例提供的一种ADC通道校准方法，利用单片机多余的ADC通道，外加一个参考源芯片或者电路，解决部分单片机由于没有外置参考源，提高ADC采样准确度的方法，该方法对于电路的成本影响不大，提高了经济利用率。 |
