一种动态测量片状材料晶体织构的系统、设备及方法
基本信息
| 申请号 | CN201711351713.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN108414553B | 公开（公告）日 | 2021-03-23 |
| 申请公布号 | CN108414553B | 申请公布日 | 2021-03-23 |
| 分类号 | G01N23/207(2006.01)I;G01N23/2055(2018.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 熊旭明;王延凯;寇秀荣;戴辉;罗恒;李小宝;陈惠娟;蔡渊 | 申请（专利权）人 | 苏州新材料研究所有限公司 |
| 代理机构 | 北京工信联合知识产权代理有限公司 | 代理人 | 朱振德 |
| 地址 | 215000江苏省苏州市工业园区星湖街218号生物纳米园C18栋 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种动态测量带材或板材的晶体织构的系统、设备及方法。该系统包括用于发射X射线的X射线管以及用于接收X射线并计算得出待测产品的晶体织构的X射线探测器，所述X射线管及X射线探测器分别设置于测角仪上，所述测角仪设置在第一旋转台上，所述第一旋转台设置在第二旋转台上，所述第一旋转台与第二旋转台的旋转轴相互垂直；所述系统还包括待测产品输送机构，用于将所述待测产品以连续或步进的方式输送经过所述X射线管及X射线探测器的检测点。本发明实现了对带材及板材等待测产品的在线连续自动测量，大大提高了测量效率，并且可测量内容丰富。同时结构简单，可以加装于现有生产线或检测线上，无需改动现有设备的结构，成本低。 |
