一种测定硫酸羟氯喹中有机杂质的方法
基本信息
| 申请号 | CN202010473988.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN111474269A | 公开（公告）日 | 2020-07-31 |
| 申请公布号 | CN111474269A | 申请公布日 | 2020-07-31 |
| 分类号 | G01N30/02(2006.01)I;G01N30/60(2006.01)I | 分类 | - |
| 发明人 | 吉丹丹;薛琳;唐亮 | 申请（专利权）人 | 湖南如虹制药有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 410007湖南省长沙市雨花区环保中路188号国际企业中心7栋A604号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种测定硫酸羟氯喹中有机杂质的方法，该方法采用以十八烷基硅烷键合硅胶为填充剂的色谱柱，以二极管阵列检测器或紫外检测器为检测器，流动相由流动相A（NH3‑NH4+缓冲溶液）和流动相B（氨水‑乙腈混合溶液）进行梯度洗脱，洗脱程序（不同时间A:B的体积比）为：0min（65:35）→15min（65:35）→16min（35:65）→30min（35:65）→30.01min（65:35）→40min（65:35）。本发明的方法专属性强，可快速检测出硫酸羟氯喹中有机杂质。 |
