一种高光谱结合深度学习工业检测系统
基本信息
| 申请号 | CN202110415789.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112816499B | 公开（公告）日 | 2021-06-29 |
| 申请公布号 | CN112816499B | 申请公布日 | 2021-06-29 |
| 分类号 | G01N21/95（2006.01）I;G06N3/04（2006.01）I;G06N3/08（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 方志斌;和江镇;王岩松;都卫东;吴健雄;王天翔 | 申请（专利权）人 | 征图智能科技（江苏）有限公司 |
| 代理机构 | 常州品益专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 王涵江 |
| 地址 | 213161江苏省常州市武进经济开发区锦华路258-6号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及一种高光谱结合深度学习工业检测系统，包括用于取点的光谱仪以及用于成像的高光谱相机；检测步骤为：S1、使用光谱仪在被测样品上取缺陷点与正常点，并获得缺陷点与正常点的向量数据；S2、使用基于比较类内与类间均方差的算法以及计算相关系数的算法验证高光谱检测的可行性；S3、如果具有可行性，则使用基于衡量类内与类间选定特征值差距的方法进行高光谱图像的通道选取；S4、将选取的通道运用基于每点的特征值与代表向量特征值比较的方法对选取的通道组成的图像进行自动打标，将打标后的图像送入神经网络进行训练；S5、利用训练好的网络对被测物进行检测。本发明具有简单、高效等特点。 |
