一种众核芯片的测试方法、装置及测试设备
基本信息
| 申请号 | CN201811630342.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN111381147B | 公开（公告）日 | 2022-03-01 |
| 申请公布号 | CN111381147B | 申请公布日 | 2022-03-01 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 孟樑;阎亚茹 | 申请（专利权）人 | 北京灵汐科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京麦宝利知识产权代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 赵艳红 |
| 地址 | 100080北京市海淀区北四环西路67号8层801 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开一种众核芯片的测试方法、装置及测试设备。其中，该方法包括：向待测试的众核芯片的各个内核输入相同的测试向量，其中，众核芯片的内核包括m个内核组，m个内核组中的每个内核组包含n个内核，m个内核组中物理实现相同的内核具有相同的组内标识，且同一内核组中的n个内核的组内标识互不相同，其中，m为大于2的整数，n为大于1的整数；判断m个内核组中具有相同组内标识的内核的输出的测试结果向量是否完全相同；如果m个内核组中所有具有相同组内标识的内核输出的测试结果向量都相同，则确定待测试的众核芯片无故障。通过本发明，可以节省测试时间。 |
