一种监控FPC金手指金面粗糙的工艺方法
基本信息
| 申请号 | CN201510918555.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN105470161B | 公开（公告）日 | 2017-11-07 |
| 申请公布号 | CN105470161B | 申请公布日 | 2017-11-07 |
| 分类号 | H01L21/66(2006.01)I;H05K3/40(2006.01)I | 分类 | 基本电气元件; |
| 发明人 | 柳家强;聂魁丰 | 申请（专利权）人 | 深圳市精诚达电路科技股份有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市博锐专利事务所 | 代理人 | 张明 |
| 地址 | 518000 广东省深圳市宝安区沙井镇辛养村西环工业区B栋 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种监控FPC金手指金面粗糙的工艺方法，包括：S1：使用金相显微镜对FPC金手指的金面进行观察，标识出金面不平整的位置；S2：对所标识出的位置制作金相切片；S3：使用金相显微镜确认切片上镍面凸起或凹陷的位置，测量所述镍面凸起或凹陷的高度；S4：判断所述高度是否符合预设的判定标准。本发明量化了金面平整度的检测过程，显著提高检测的精确度，确保最终成品的金面的平整度符合客户的标准，提高良品率以及客户的满意度。 |
