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应用于开尔文测试的芯片测试针及治具

基本信息

申请号 CN201420706715.4 申请日 -
公开（公告）号 CN204302330U 公开（公告）日 2015-04-29
申请公布号 CN204302330U 申请公布日 2015-04-29
分类号 G01R1/067(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 刘凯;施元军;高凯;殷岚勇 申请（专利权）人 上海韬盛电子科技股份有限公司
代理机构 上海唯源专利代理有限公司 代理人 上海韬盛电子科技有限公司
地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路498号9幢20214室
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型涉及一种应用于开尔文测试的芯片测试针及治具，属于电子产品技术领域。该应用于开尔文测试的芯片测试针的针头部具有两个内凹面，两个内凹面之间的距离小于测试针本体的宽度，且该应用于开尔文测试的芯片测试治具的上盖板顶部设置有与针腔连通的方形槽，方形槽的宽度大于芯片测试针的针头部两个内凹面之间的距离，且方形槽的宽度小于芯片测试针的本体的宽度。从而能使该测试针放置在治具针腔内时，其针头部可置于所述的方形槽中，从而有效避免测试针在针腔内的旋转，提高针尖刺到锡球的准确度，保证芯片检测的效率，且本实用新型的应用于开尔文测试的芯片测试针及治具，其结构简单，成本低廉，应用范围也相当广泛。