探针寿命测试仪
基本信息
| 申请号 | CN201420745124.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN204302386U | 公开（公告）日 | 2015-04-29 |
| 申请公布号 | CN204302386U | 申请公布日 | 2015-04-29 |
| 分类号 | G01R27/02(2006.01)I;G01R35/00(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 刘凯;郭靖;高凯;殷岚勇 | 申请（专利权）人 | 上海韬盛电子科技股份有限公司 |
| 代理机构 | 上海唯源专利代理有限公司 | 代理人 | 上海韬盛电子科技有限公司 |
| 地址 | 201203 上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路498号9幢20214室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型涉及一种探针寿命测试仪，属于电子设备技术领域。该结构的探针寿命测试仪包括曲柄机构、测试针固定机构和千分表，能够利用千分表精确测量每次弹簧探针的压缩量，进而能够测量出每根探针电阻，从而快速确定其使用寿命，且本实用新型的探针寿命测试仪结构简单，成本低廉，应用也相当方便。 |
