芯片测试治具
基本信息
| 申请号 | CN201420692600.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN204303758U | 公开（公告）日 | 2015-04-29 |
| 申请公布号 | CN204303758U | 申请公布日 | 2015-04-29 |
| 分类号 | H01L21/66(2006.01)I;G01R1/073(2006.01)I | 分类 | 基本电气元件; |
| 发明人 | 刘凯;郭靖;施元军;高凯;殷岚勇 | 申请（专利权）人 | 上海韬盛电子科技股份有限公司 |
| 代理机构 | 上海唯源专利代理有限公司 | 代理人 | 上海韬盛电子科技有限公司 |
| 地址 | 201203 上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路498号9幢20214室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型涉及一种芯片测试治具，属于电子产品技术领域。该芯片测试治具包括本体、铜块和护板，铜块位于所述的本体和护板之间；该芯片测试治具还包括若干测试针，所述的本体、铜块和护板的对应位置上分别设置有若干测试针通孔，所述的测试针设置于所述的测试针通孔内。所述的测试针通孔不采用全针腔设计，从而能够适用于高频率的芯片测试，且结构简单，成本低廉的芯片测试治具。 |
