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适用于高频测试的芯片测试插座

基本信息

申请号 CN201420745125.2 申请日 -
公开（公告）号 CN204302321U 公开（公告）日 2015-04-29
申请公布号 CN204302321U 申请公布日 2015-04-29
分类号 G01R1/04(2006.01)I;G01R1/073(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 高宗英;周勇华;高凯;殷岚勇 申请（专利权）人 上海韬盛电子科技股份有限公司
代理机构 上海唯源专利代理有限公司 代理人 蔡沅
地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路498号9幢20214室
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型涉及一种适用于高频测试的芯片测试插座，属于电子设备技术领域。采用了该结构的适用于高频测试的芯片测试插座，由于其框架、浮板、主体和托板中设置有若干上下贯通的针腔，各所述针腔中均设置有测试针，所述的浮板为金属浮板，且所述的测试针与所述的浮板之间设置有特氟隆垫圈，从而避免了金属材料与测试针之间的导电和摩擦产生的磨损，进而避免了信号之间的干扰，信号传输衰减小，具有屏蔽衰减的，特性阻抗较好，且本实用新型的适用于高频测试的芯片测试插座，其结构简单，成本低廉，应用范围也较为广泛。