芯片CP测试中探针台驱动配置方法及系统专利查询专利号|摘要-满商公司网

芯片CP测试中探针台驱动配置方法及系统

基本信息

申请号	CN202110889908.2	申请日	-
公开（公告）号	CN113608105A	公开（公告）日	2021-11-05
申请公布号	CN113608105A	申请公布日	2021-11-05
分类号	G01R31/28（2006.01）I	分类	测量；测试;
发明人	徐振	申请（专利权）人	杭州芯云半导体技术有限公司
代理机构	合肥方舟知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	吴伟晨
地址	310000浙江省杭州市滨江区浦沿街道六和路368号一幢（南）一楼F1066室
法律状态	-

摘要

本发明提供芯片CP测试中探针台驱动配置方法，方法包括如下步骤：步骤S1，先通过测试机监测模块扫描被测芯片的批号，再通过分批处理模块根据芯片批号的不同进行分批处理；步骤S2，通过测试机的测试模块从服务器获取被测芯片的测试信息；步骤S3，检测芯片批号为奇数时，通过分批处理模块中的优先检测单元进行优先处理，检测芯片信号为偶数时，通过分离处理模块中的检测等待单元进行迟缓处理；步骤S4，通过测试机驱动模块驱动探针台对被测芯片进行检测，本发明通过为解密代码设置若干套转换方法，能够一体化对测试芯片进行检测，能够根据测试芯片批号自动下载所需Recip，提高一体化进程，提高测试精确性，节省大量人力，降低检测成本。