芯片CP测试中探针台驱动配置方法及系统
基本信息
申请号 | CN202110889908.2 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN113608105A | 公开(公告)日 | 2021-11-05 |
申请公布号 | CN113608105A | 申请公布日 | 2021-11-05 |
分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 徐振 | 申请(专利权)人 | 杭州芯云半导体技术有限公司 |
代理机构 | 合肥方舟知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人 | 吴伟晨 |
地址 | 310000浙江省杭州市滨江区浦沿街道六和路368号一幢(南)一楼F1066室 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明提供芯片CP测试中探针台驱动配置方法,方法包括如下步骤:步骤S1,先通过测试机监测模块扫描被测芯片的批号,再通过分批处理模块根据芯片批号的不同进行分批处理;步骤S2,通过测试机的测试模块从服务器获取被测芯片的测试信息;步骤S3,检测芯片批号为奇数时,通过分批处理模块中的优先检测单元进行优先处理,检测芯片信号为偶数时,通过分离处理模块中的检测等待单元进行迟缓处理;步骤S4,通过测试机驱动模块驱动探针台对被测芯片进行检测,本发明通过为解密代码设置若干套转换方法,能够一体化对测试芯片进行检测,能够根据测试芯片批号自动下载所需Recip,提高一体化进程,提高测试精确性,节省大量人力,降低检测成本。 |
