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一种产品测试座

基本信息

申请号 CN202021496654.5 申请日 -
公开（公告）号 CN212322976U 公开（公告）日 2021-01-08
申请公布号 CN212322976U 申请公布日 2021-01-08
分类号 H01L21/683(2006.01)I;H01L21/66(2006.01)I 分类 基本电气元件;
发明人 王锐;郑之旭;侯新安 申请（专利权）人 上海旻艾半导体有限公司
代理机构 南京申云知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 上海旻艾半导体有限公司
地址 200120上海市浦东新区临港新城飞渡路66号E区6号
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种产品测试座，基本结构包括基座、测试片底座、测试片和陶瓷片，所述基座中间设置有通孔，且通孔内部两侧均设置有镶嵌槽，所述镶嵌槽内设置有测试片底座，所述测试片底座上端面设置有陶瓷片，测试片底座的下端面均匀设置有通孔，测试片底座内镶嵌有测试片，所述测试片包括上针脚和下针脚，所述陶瓷片上端面均匀设置有凹槽。该产品测试座的测试片相互独立，测试片底座、测试片和陶瓷片可以拆卸，当其中一个测试片发生断裂的情况下，只需要拆卸更换一个即可，不需要更换，大大节省了成本，而且测试片底座可以对测试片的上针脚进行支撑，压测时受到支撑，不易折断，延长使用寿命，同时该测试座安装简单，减少了停机时间。