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一种高电子利用率低能电离装置、质谱系统及方法

基本信息

申请号 CN201810194678.6 申请日 -
公开（公告）号 CN108493091A 公开（公告）日 2018-09-04
申请公布号 CN108493091A 申请公布日 2018-09-04
分类号 H01J49/14;H01J49/42;G01N27/64 分类 基本电气元件;
发明人 黄泽建;刘广才;方向;江游;龚晓云;翟睿;谢洁;刘梅英 申请（专利权）人 上海砺沐科学仪器有限公司
代理机构 北京路浩知识产权代理有限公司 代理人 王莹;吴欢燕
地址 201800 上海市嘉定区新徕路438号1幢208室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明实施例提供了一种高电子利用率低能电离装置、质谱系统及方法，包括：电离室、电子入射栅网及低能电场组件；所述电离室，位于所述电子入射栅网内侧，用于容纳待测物分子与电子，所述电子轰击所述待测物分子进行电离；所述电子入射栅网，安装在所述电离室与所述低能电场组件之间，用于提高电子利用率；所述低能电场组件，安装在所述电子入射栅网外侧，用于生成低能电场。一种采用所述电离装置的质谱系统，以及采用了所述质谱系统的质谱方法。本发明可以有效减少待测物分子产生的碎片离子并提高电子利用率，从而在气体成分的检测中不需要再借助色谱。