一种高电子利用率低能电离装置、质谱系统及方法
基本信息
| 申请号 | CN201810194678.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN108493091B | 公开（公告）日 | 2020-03-24 |
| 申请公布号 | CN108493091B | 申请公布日 | 2020-03-24 |
| 分类号 | H01J49/14;H01J49/42;G01N27/64 | 分类 | 基本电气元件; |
| 发明人 | 黄泽建;刘广才;方向;江游;龚晓云;翟睿;谢洁;刘梅英 | 申请（专利权）人 | 上海砺沐科学仪器有限公司 |
| 代理机构 | 北京路浩知识产权代理有限公司 | 代理人 | 王莹;吴欢燕 |
| 地址 | 201800 上海市嘉定区新徕路438号1幢208室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明实施例提供了一种高电子利用率低能电离装置、质谱系统及方法，包括：电离室、电子入射栅网及低能电场组件；所述电离室，位于所述电子入射栅网内侧，用于容纳待测物分子与电子，所述电子轰击所述待测物分子进行电离；所述电子入射栅网，安装在所述电离室与所述低能电场组件之间，用于提高电子利用率；所述低能电场组件，安装在所述电子入射栅网外侧，用于生成低能电场。一种采用所述电离装置的质谱系统，以及采用了所述质谱系统的质谱方法。本发明可以有效减少待测物分子产生的碎片离子并提高电子利用率，从而在气体成分的检测中不需要再借助色谱。 |
