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一种通过质量-电阻法测量WIC镶嵌超导线铜超比方法

基本信息

申请号 CN201911044958.X 申请日 -
公开（公告）号 CN110823747B 公开（公告）日 2022-02-22
申请公布号 CN110823747B 申请公布日 2022-02-22
分类号 G01N5/00（2006.01）I;G01N27/04（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 王菲菲;郭强;王蒙;董茂胜;陈建亚;昌胜红;张科;李建峰 申请（专利权）人 西部超导材料科技股份有限公司
代理机构 西安弘理专利事务所 代理人 燕肇琪
地址 710018陕西省西安市经开区明光路12号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及WIC镶嵌超导线材铜超比测量技术领域，尤其为WIC镶嵌超导线提供一种质量与电阻相结合的铜超比测量方法；将镀锡前镶嵌圆线与镶嵌铜槽线进行剥离；采用电阻法测量镶嵌圆线的铜超比β，通过计算得出镶嵌圆线铜的体积，镶嵌圆线Nb阻隔层与NbTi芯丝的体积；称重镶嵌铜槽质量并通过计算获得镶嵌铜槽线体积；称重WIC镀锡成品线质量，镶嵌铜槽与镶嵌圆线质量之和，两者相减获得镶嵌焊料锡的质量并通过计算获得焊料锡的体积。大量测量比对实验表明：本发明的方法与化学腐蚀法测量比对误差在2％以内，满足使用需求。本发明的方法与化学腐蚀法相比，效率提升65％以上，且避免了化学腐蚀法使用HNO3对环境造成的污染。