一种通过测量液晶玻璃板缺陷深度寻找产生缺陷的工段的方法
基本信息
| 申请号 | CN201710087364.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN106908449B | 公开（公告）日 | 2019-09-06 |
| 申请公布号 | CN106908449B | 申请公布日 | 2019-09-06 |
| 分类号 | G01N21/88（2006.01）I; G01N21/95（2006.01）I; G01B5/06（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 李青; 韩军; 穆美强; 苏记华; 赵玉乐; 王光祥; 李东生 | 申请（专利权）人 | 福州东旭光电科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京英创嘉友知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 耿超;王浩然 |
| 地址 | 350000 福建省福州市保税港区加工贸易区监管大楼109室072区间(福清市新厝镇新江路9号)(自贸试验区内) | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及一种通过测量液晶玻璃板缺陷深度寻找产生缺陷的工段的方法，液晶玻璃板中有缺陷，该方法包括：通过显微镜观察确定对应面焦距和缺陷焦距，通过下式计算缺陷距离基准面的深度：深度＝液晶玻璃板的厚度×对应面焦距÷缺陷焦距；按照距离液晶玻璃板外表面的深度，将液晶玻璃板内部划分为A区域、D区域和F区域，缺陷在A区域时，表明铂金区的净化工段产生了缺陷；缺陷在F区域时：表明成型区的固化工段产生了缺陷；缺陷在D区域时：表明池炉区的熔融工段产生了缺陷。本发明能够准确测量得到缺陷在玻璃板中的深度位置，通过缺陷深度数据找到产生缺陷的工段，进而消除工段中问题，提升良品率。 |
