检测激光加工质量的光学检测模块和系统
基本信息
申请号 | CN202023074751.8 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN214427310U | 公开(公告)日 | 2021-10-19 |
申请公布号 | CN214427310U | 申请公布日 | 2021-10-19 |
分类号 | G01N21/95(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 刘文杰;周泉;李静娴 | 申请(专利权)人 | 广州德擎光学科技有限公司 |
代理机构 | 广州蓝晟专利代理事务所(普通合伙) | 代理人 | 欧阳凯 |
地址 | 510290广东省广州市海珠区沥滘振兴大街10号自编15号楼C201单元 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本实用新型涉及一种检测激光加工质量的光学检测模块和系统,该光学检测模块包括分光元件、减光片组、光电传感器和一体成型的光学检测模块外壳;分光元件用于接收检测光束,并将检测光束分成至少两个不同频段的出射光光束;减光片组用于消减分光元件出射光的光强;光电传感器用于接收减光片组出射光,并输出进行光电转换后的检测电信号;分光元件、减光片组和光电传感器依次排列且全部容置于光学检测模块外壳内。本实用新型的光学检测模块外壳整个结构底座一次加工成型后,内置相关光学组件,最大程度的保证三路光学性能偏差的一致性,减少了光电传感器因光路差异带来的检测运算误差,提高了光学检测模块对入射光反应外界激光加工面的检测精度。 |
