一种具有参比端的二极管阵列检测器及控制方法
基本信息
| 申请号 | CN202111490197.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114200068A | 公开（公告）日 | 2022-03-18 |
| 申请公布号 | CN114200068A | 申请公布日 | 2022-03-18 |
| 分类号 | G01N30/74（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 封娇;马周;韩晶;杨三东;王丰琳;唐涛;李彤 | 申请（专利权）人 | 大连依利特分析仪器有限公司 |
| 代理机构 | 北京精金石知识产权代理有限公司 | 代理人 | 刘俊玲 |
| 地址 | 116023辽宁省大连市高新技术产业园区七贤岭学子街2号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种具有参比端的二极管阵列检测器及控制方法，涉及检测领域，包括光源发出的光线经反射镜出射后依次入射至石英窗口和分光镜，入射至分光镜的光线一部分经过光阑反射至参比端光电测量机构处，一部分光线经分光镜直接透射聚焦于样品池中心；经过样品池出射的光利用超环面镜汇聚到狭缝处，通过狭缝的光线经凹面平场光栅的分光形成光谱并被二极管阵列探测器接收光谱的光强信息。本发明利用分光镜及参比端光电测量机构，通过开机自检自动化控制二极管阵列探测器的曝光时间，以及风机电压的实时控制，解决了二极管阵列检测器开机自检受到样品池干扰等问题。 |
