一种光学显微镜畸变测量用线纹尺专利查询专利号|摘要-满商公司网

一种光学显微镜畸变测量用线纹尺

基本信息

申请号	CN202122409086.1	申请日	-
公开（公告）号	CN215865750U	公开（公告）日	2022-02-18
申请公布号	CN215865750U	申请公布日	2022-02-18
分类号	G01M11/02（2006.01）I	分类	测量；测试;
发明人	房永强;白新房;郑铱;马晓晨;毕革平;鲁文婧	申请（专利权）人	西安汉唐分析检测有限公司
代理机构	西安创知专利事务所	代理人	马凤云
地址	710000陕西省西安市经济技术开发区泾渭新城泾高北路中段18号
法律状态	-

摘要

本实用新型公开了一种光学显微镜畸变测量用线纹尺，包括四个呈米字形交叉于一点布设的直线线纹尺，相邻两个所述直线线纹尺的夹角为45°，四个所述直线线纹尺的计量值均由交叉点向两侧逐渐增大，四个所述直线线纹尺包括一个第一分度直线线纹尺和三个第二分度直线线纹尺，第一分度直线线纹尺的分度值小于第二分度直线线纹尺分度值。本实用新型通过设置四个呈米字形布设的直线线纹尺对显微镜系统畸变进行测量，数码相机拍摄显微镜目镜下的米字形线纹尺的图像，再通过测量图像上四个方向不同长度的所占的像素数来判断显微镜系统畸变的类型，一次拍摄的图像即可作为全部测量的对象，减少由于数码相机拍摄的问题存在的测量误差，使测量结果更加准确。