一种液晶模组缺陷深度测量与分层装置和方法
基本信息
| 申请号 | CN201910538756.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112200760A | 公开（公告）日 | 2021-01-08 |
| 申请公布号 | CN112200760A | 申请公布日 | 2021-01-08 |
| 分类号 | G06T7/00(2017.01)I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 孙立;余凌云;杨铠康;华成;张永恒;连泽钦;曹寿盛 | 申请（专利权）人 | 安徽瑞视微智能科技有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市凯博企服专利代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 惠州旭鑫智能技术有限公司 |
| 地址 | 516006广东省惠州市仲恺高新区陈江街道陈江大道北36号(厂房二)第5层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种液晶模组缺陷深度测量与分层装置和方法，包含如下步骤：采用包括两个不同视角相机及运输机构的视觉装置，对液晶模组进行拍摄得到视角A图像和视角B图像；分别在视角A图像和视角B图像中定位目标缺陷在图像中位置，得到目标缺陷的视角A、视角B图像像素坐标；将目标缺陷的视角A、视角B图像像素坐标分别转换为视角A、视角B物理像素坐标；根据目标缺陷视角A、视角B物理像素坐标计算视差；根据预先标定得到的视差‑深度映射参数和目标缺陷视差值计算得到目标缺陷相对于液晶层的深度；根据目标缺陷深度值确定该缺陷位于液晶模组哪一层。本发明可实现液晶面板AOI检测的缺陷深度测量和分层，精度和稳定性高。 |
