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一种单源同轴多向激光测距装置及测距方法

基本信息

申请号 CN202111001280.4 申请日 -
公开（公告）号 CN113933850A 公开（公告）日 2022-01-14
申请公布号 CN113933850A 申请公布日 2022-01-14
分类号 G01S17/08（2006.01）I;G01S7/481（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 李国庆;孙国梁;夏长城 申请（专利权）人 华研芯测半导体（苏州）有限公司
代理机构 - 代理人 -
地址 215300江苏省苏州市昆山市巴城镇学院路999号1号房
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种单源同轴多向激光测距装置及测距方法，该装置包括点激光光源、多个级联主轴分光镜和多个光路改变测距单元，点激光光源固定设置于主轴，且沿主轴发射激光光束；点激光光源主轴发射的激光光束经每一级联主轴分光镜皆分为第一光束和第二光束，第一光束为平行于主轴的下一级的入射光束，第二光束为与主轴垂直的本级的反射光束，第二光束进入对应的光路改变测距单元并通过光路改变测距单元在对应方向上实现对目标测距位置的距离的测量。本发明采用单光源形成主轴同轴激光，通过级联主轴分光镜形成多级复用并通过级联主轴分光镜的角度可旋转从而实现任意方向目标的测距；采用单光源节省能源损耗，同轴测量提高测量效率与精度。