液晶面板的物理性质测量方法
基本信息
| 申请号 | CN202111535983.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114114737A | 公开（公告）日 | 2022-03-01 |
| 申请公布号 | CN114114737A | 申请公布日 | 2022-03-01 |
| 分类号 | G02F1/13（2006.01）I | 分类 | 光学; |
| 发明人 | 罗施庆;李军 | 申请（专利权）人 | 湖南宏晶电子有限公司 |
| 代理机构 | 北京化育知识产权代理有限公司 | 代理人 | 尹均利 |
| 地址 | 422100湖南省邵阳市邵阳县工业集中区湘商产业园27栋 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及液晶面板物理性质测量方法领域，其具体步骤是：对所述液晶面板中的的栅极施加该液晶面板源极‑漏极间导通极限值的电压；向所述液晶面板中的液晶层中写入脉冲电压，且将所述的源极的电位保持为地电平；检测出写入了所述脉冲电压的所述液晶层的电位的变化而测量所述液晶层中的电压保持率，所述液晶层中的液晶分子被电场驱动，该电场由利用所述驱动的像素电极、与该像素电极对应地设置的共用电极形成，对所述共用电极施加脉冲电压。本方法可以精确的测量液晶面板的物理性质，从而评估液晶面板的性能和质量。 |
