检测结构和芯片检测机构
基本信息
| 申请号 | CN202011426443.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112684316A | 公开（公告）日 | 2021-04-20 |
| 申请公布号 | CN112684316A | 申请公布日 | 2021-04-20 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 陈秋龙;张晋;刘东成 | 申请（专利权）人 | 深圳市盛世智能装备股份有限公司 |
| 代理机构 | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 谢岳鹏 |
| 地址 | 518000广东省深圳市宝安区石岩街道石龙社区工业二路1号惠科工业园厂房7栋1楼东面及2楼东面 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种检测结构和芯片检测机构。检测结构包括检测件、第一移动块、驱动件、第一轨道，检测件设有检测面，光线通过检测面进入检测件，检测件与第一移动块相连接，驱动件与第一移动块相连接，第一轨道相对检测面倾斜设置，第一移动块能够沿着第一轨道移动。由于第一轨道倾斜设置，所以当检测件通过第一移动块在第一轨道移动时，可以通过第一驱动件驱动第一检测件完成上下方向和水平方向等两个方向的移动，相较于相关技术，节省了驱动件的数量。本发明还公开了一种芯片检测机构，包括上述检测结构。 |
