红外光学温度测量装置、方法及MOCVD系统
基本信息
| 申请号 | CN201310104209.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN104075809B | 公开（公告）日 | 2019-05-07 |
| 申请公布号 | CN104075809B | 申请公布日 | 2019-05-07 |
| 分类号 | G01J5/10（2006.01）I; C23C14/54（2006.01）I; C23C16/52（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 马法君 | 申请（专利权）人 | 中晟光电设备（上海）股份有限公司 |
| 代理机构 | 上海信好专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 中晟光电设备（上海）股份有限公司 |
| 地址 | 201203 上海市浦东新区张江高科技园区华佗路168号3幢B区 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及一种红外光学温度测量装置、方法及MOCVD系统，该红外光学温度测量装置仅包括温度测量通道，有效简化了红外光学温度测量装置的结构和测温操控时的复杂程度。所述温度测量通道包括：光学处理模块，用于在薄膜生长过程中收集以及过滤被测量对象辐射的红外光信号；信号处理模块，用于将经过过滤的红外光信号转换为电信号，以及将该电信号转换为数字信号，并直接将该数字信号作为温度测量结果输出，由于温度测量通道中的光学处理模块过滤后得到的红外光信号的光谱宽度大于等于50纳米，能够有效减弱红外光信号的相干性，从而减小因为薄膜干涉造成的温度测量结果的波动，提高温度测量的准确性。 |
