一种产品反光表面缺陷检测方法及系统专利查询专利号|摘要-满商公司网

一种产品反光表面缺陷检测方法及系统

基本信息

申请号	CN202011536436.4	申请日	-
公开（公告）号	CN112782179A	公开（公告）日	2021-05-11
申请公布号	CN112782179A	申请公布日	2021-05-11
分类号	G01N21/88	分类	测量；测试;
发明人	刘磊;岳峰;李彬	申请（专利权）人	北京市新技术应用研究所有限公司
代理机构	北京真致博文知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	苏畅
地址	100035 北京市西城区西直门南大街16号
法律状态	-

摘要

本发明提供一种产品反光表面缺陷检测方法，包括：获取待检测产品反光表面条纹图像及白色反光图像；获取待检测产品的感兴趣区域；获取感兴趣区域的基准点；条纹图像形态学滤波处理；图像二值化处理；基于模板图像的图像边缘形态学处理；缺陷检测。本发明还提供一种产品反光表面缺陷检测系统，包括：显示器、工业相机、图像处理设备、机械传动设备、产品固定夹具。本发明充分考虑产品表面图像检测面积和检测点数量各异、待检测区域反光且带有弧度等情况，利用白色反光图像信息分别获得待检测图像ROI的轮廓及轮廓内图像以及ROI的基准点，获取去除条纹干扰且缺陷能够很好保留的图像，实现待检测产品反光面中每个ROI缺陷的快速、精确、稳定的检测。