一种基于有向稀疏采样的手机屏幕缺陷检测方法
基本信息
| 申请号 | CN202110410722.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113096105A | 公开（公告）日 | 2021-07-09 |
| 申请公布号 | CN113096105A | 申请公布日 | 2021-07-09 |
| 分类号 | G06T7/00（2017.01）I;G06K9/62（2006.01）I;G06N3/04（2006.01）I;G06N3/08（2006.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 张成英;李缃珍 | 申请（专利权）人 | 深圳市玻尔智造科技有限公司 |
| 代理机构 | 杭州九洲专利事务所有限公司 | 代理人 | 张羽振 |
| 地址 | 518110广东省深圳市龙华区观澜街道大富社区大富工业区20号硅谷动力智能终端产业园A5栋101 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及一种基于有向稀疏采样的手机屏幕缺陷检测方法，包括步骤：构建DeNet模型；DeNet模型训练；检测DeNet模型；输出手机屏幕缺陷检测结果。本发明的有益效果是：通过低成本的图像处理技术提高手机屏幕缺陷检测的精度；结合了基于稀疏区域方法的易于训练、场景适应性和分类精度，以及基于密集非区域方法的快速训练和评估；设定一个稀疏分布估计方案定向稀疏采样模型（DeNet模型），并将其应用于一个基于CNN的端到端检测模型中，解决了现阶段手机屏幕缺陷检测中遇到的问题，实现了扩展和适用于以前的最先进的检测模型，并额外强调高评估率和减少人工工程。 |
