一种非接触式位置检测装置
基本信息
| 申请号 | CN202120133501.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN214040062U | 公开（公告）日 | 2021-08-24 |
| 申请公布号 | CN214040062U | 申请公布日 | 2021-08-24 |
| 分类号 | G01C21/00（2006.01）I;F16H19/06（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 刁怀庆;薛山;冯超 | 申请（专利权）人 | 天津中科华誉科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京头头知识产权代理有限公司 | 代理人 | 白芳仿;刘锋 |
| 地址 | 300304天津市东丽区华明高新技术产业区华丰路6号G3-304室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型涉及位置检测技术领域，其目的是提供一种非接触式位置检测装置，具有较强抵抗干扰磁场的能力、能够保证检测精度。所述非接触式位置检测装置包括磁体组件和用于检测磁场变化并计算所述磁体组件旋转角度的检测组件，所述磁体组件包括可绕中心旋转的底座及固定设置在所述底座上表面的至少一个磁体组，每个所述磁体组包括两个相对于所述底座的中心位置对称的磁体（1），同组的两个所述磁体（1）在竖直方向上磁极相反设置。本实用新型提供的解决了现有非接触式位置检测装置容易受外界电磁干扰的影响，检测精确度不高的问题。 |
