芯片调试方法和装置
基本信息
申请号 | CN201610651804.7 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN106294056B | 公开(公告)日 | 2019-04-02 |
申请公布号 | CN106294056B | 申请公布日 | 2019-04-02 |
分类号 | G06F11/26(2006.01)I | 分类 | 计算;推算;计数; |
发明人 | 钱利国; 张宇弘; 王界兵 | 申请(专利权)人 | 北京网迅科技有限公司杭州分公司 |
代理机构 | 深圳市明日今典知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人 | 北京网迅科技有限公司杭州分公司 |
地址 | 310016 浙江省杭州市西湖区文三路478号华星时代广场A507 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明揭示了一种芯片调试方法和装置,所述方法包括以下步骤:与信息处理设备的通信接口连接,从信息处理设备获取调试配置信息;根据调试配置信息从调试芯片采集采样信号;将采样信号输出至信息处理设备。从而,通过利用现有的信息处理设备进行调试配置信息的设置,根据调试配置信息从调试芯片采集到采样信号后再输出至信息处理设备,再利用信息处理设备根据采样信号对调试芯片进行逻辑分析处理和调试操作,充分利用了现有设备的功能,极大的降低了成本,实现成本低。而且,用户可以在信息处理设备上便捷、直观的进行调试配置信息的设置以及对调试芯片进行逻辑分析处理和调试操作,因此操作方便快捷,功能足够丰富。 |
