一种基于GTEM测试小室的局放传感器测试工装
基本信息
| 申请号 | CN202020265284.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN211826455U | 公开（公告）日 | 2020-10-30 |
| 申请公布号 | CN211826455U | 申请公布日 | 2020-10-30 |
| 分类号 | G01R35/00(2006.01)I | 分类 | - |
| 发明人 | 吴瑜亮;田广亮;赵洪义;沈道义 | 申请（专利权）人 | 上海格鲁布科技有限公司 |
| 代理机构 | 上海思牛达专利代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 上海格鲁布科技有限公司 |
| 地址 | 201210上海市浦东新区秋月路26号10号楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种基于GTEM测试小室的局放传感器测试工装，包括GTEM小室，所述GTEM小室的顶部开设有开口，所述开口的上侧安装有GIS拔口模拟盘，所述GIS拔口模拟盘上安装有被测传感器，所述被测传感器包括传感器本体、传感器天线，所述传感器本体的上侧安装有传感器接线盒。本方案的局放传感器测试工装设备制造成本低，可一次制作重复使用，可快速、方便地适应不同类型的特高频传感器，能够真实、全面的反应现场实际的运行情况，保证测试的结果准确。 |
