一种半导体器件及其制备方法
基本信息
申请号 | CN202011599595.9 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN114695532A | 公开(公告)日 | 2022-07-01 |
申请公布号 | CN114695532A | 申请公布日 | 2022-07-01 |
分类号 | H01L29/423(2006.01)I;H01L29/778(2006.01)I;H01L21/335(2006.01)I | 分类 | 基本电气元件; |
发明人 | 宋晰;韩鹏宇;王慧琴 | 申请(专利权)人 | 苏州能讯高能半导体有限公司 |
代理机构 | 北京品源专利代理有限公司 | 代理人 | - |
地址 | 215300江苏省苏州市昆山市高新区晨丰路18号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明实施例公开了一种半导体器件及其制备方法,半导体器件包括有源区和无源区;半导体器件还包括:位于衬底一侧的源极、栅极和漏极,栅极位于源极和漏极之间;栅极包括第一端部和中间部,中间部、源极和漏极均位于有源区,第一端部位于无源区;第一端部包括第一子端部和第二子端部;沿第一方向,第一子端部的延伸宽度大于中间部的延伸宽度,第二子端部的延伸宽度大于第一子端部的延伸宽度;第一方向与源极指向漏极的方向平行。通过增大栅极端部的延伸宽度,增加栅极端部金属与衬底的接触面积,提高了器件封装效率,保证了栅极结构稳定、性能稳定,进一步提高半导体器件的工作稳定性和可靠性。 |
