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一种两箱式温度冲击试验箱

基本信息

申请号 CN202011636633.3 申请日 -
公开（公告）号 CN112858148B 公开（公告）日 2021-09-28
申请公布号 CN112858148B 申请公布日 2021-09-28
分类号 G01N17/00（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 许斌;张杰;方亚;谢绍军;汪洋;蓝伟 申请（专利权）人 重庆阿泰可科技股份有限公司
代理机构 重庆乐泰知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 林慰敏
地址 401120重庆市渝北区双凤桥街道长翔支路23号6幢
法律状态 -

摘要

摘要 本发明属于检测设备技术领域，具体涉及一种两箱式温度冲击试验箱，包括高温箱、低温箱、测试篮、传动系统和通道，测试篮设有上保温板和下保温板，上保温板和下保温板之间连接有四个滑轨，相邻的两个滑轨之间转动连接有若干隔热板，若干隔热板均固定连接有齿轮，齿轮两侧均设有直齿，齿轮和直齿位于滑轨内部，任一直齿上部侧面贯穿滑轨连接有第一压环，另一直齿下部侧面贯穿该滑轨连接有第二压环，下保温板中间滑动连接有托盘架，托盘架与下保温板之间可拆卸固定连接，本发明在样品在升降过程中测试篮能够对样品进行保温，直至样品完全进入到另一温度箱体中后再完全打开，减少了样品在升降过程中的温度变化，提高测试数据的精度。