一种圆偏光片缺陷的检查装置
基本信息
| 申请号 | CN202121376426.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN215117066U | 公开（公告）日 | 2021-12-10 |
| 申请公布号 | CN215117066U | 申请公布日 | 2021-12-10 |
| 分类号 | G02F1/13（2006.01）I;G01M11/00（2006.01）I | 分类 | 光学; |
| 发明人 | 王金;陈学文;闫小龙;陈敏;曲晓腾 | 申请（专利权）人 | 深圳市盛波光电科技有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市科吉华烽知识产权事务所（普通合伙） | 代理人 | 覃迎峰 |
| 地址 | 518000广东省深圳市坪山新区大工业区青松路8号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型提供了一种圆偏光片缺陷的检查装置，其包括检测光源和圆偏光片，所述检测光源位于圆偏光片的一侧，所述圆偏光片的另一侧设有用于放置待检测OLED用偏光片的固定位；所述圆偏光片包括线偏光层和光学液晶补偿膜，所述线偏光层的光轴方向与待检测OLED用偏光片的线偏光层光轴方向的夹角为80‑100度；所述光学液晶补偿膜的光轴方向与待检查的光学液晶补偿膜的光轴方向垂直。采用本实用新型的技术方案，解决了现有技术OLED用偏光片无法检出液晶缺陷的问题，有效杜绝因液晶不良引起的偏光片隐形缺陷产品批量产出及流出，提高OLED用偏光片检出率，避免不良品流向客户端引起客诉。 |
