高通量薄膜沉积设备及薄膜沉积方法

基本信息

申请号 CN202111137580.5 申请日 -
公开(公告)号 CN113862625A 公开(公告)日 2021-12-31
申请公布号 CN113862625A 申请公布日 2021-12-31
分类号 C23C14/34(2006.01)I;C23C14/50(2006.01)I 分类 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制〔2〕;
发明人 李卫民;吴挺俊;陈玲丽;朱雷;俞文杰 申请(专利权)人 上海集成电路材料研究院有限公司
代理机构 上海光华专利事务所(普通合伙) 代理人 卢炳琼
地址 201800上海市嘉定区兴贤路1180号1幢3层301室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供一种高通量薄膜沉积设备及薄膜沉积方法。设备包括腔体、载台、靶枪、第一气体供给系统及第二气体供给系统;腔体包括相互连通的溅射部和沉积部,溅射部位于沉积部的上方,溅射部的水平表面积小于沉积部的水平表面积;靶枪位于溅射部内,靶枪上设置有靶材;载台用于承载待沉积的衬底,衬底上具有待沉积区,沉积过程中,待沉积区位于靶枪的正下方;第一气体供给系统包括第一气体管路和第一气体喷淋头,第一气体喷淋头为复数个;第二气体供给系统包括第二气体管路,一端与第二气体源相连通,另一端延伸到沉积部内,以向沉积部供应第二气体,第二气体包括反应气体和/或保护气体。本发明有助于提高沉积效率和良率。