一种检测相位的系统和方法和检测折射率的系统和方法
基本信息
| 申请号 | CN201510240949.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN104833433B | 公开（公告）日 | 2018-06-15 |
| 申请公布号 | CN104833433B | 申请公布日 | 2018-06-15 |
| 分类号 | G01J9/00;G01N21/21 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 张怡龙;李东梅;何永红;马辉;刘乐 | 申请（专利权）人 | 广州广华深启科技有限责任公司 |
| 代理机构 | 深圳新创友知识产权代理有限公司 | 代理人 | 清华大学深圳研究生院;广州广华深启科技有限责任公司 |
| 地址 | 518055 广东省深圳市南山区西丽大学城清华校区 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种检测相位的系统和方法和检测折射率的系统和方法。该检测相位的系统包括光学系统、弱测量单元和光谱仪，所述光学系统将平行光输出至所述弱测量单元，所述弱测量单元使所述平行光中的P偏振光发生相位变化、进行放大并输出至光谱仪，所述光谱仪记录光谱中心波长的移动并根据波长的移动得出相位。 |
