一种双工位晶片自动测试分选机
基本信息
| 申请号 | CN202111364601.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113953198A | 公开（公告）日 | 2022-01-21 |
| 申请公布号 | CN113953198A | 申请公布日 | 2022-01-21 |
| 分类号 | B07C5/02（2006.01）I;B07C5/34（2006.01）I;B07C5/36（2006.01）I;B07C5/38（2006.01）I | 分类 | 将固体从固体中分离；分选; |
| 发明人 | 潘东东;张明;李天宝;汪晓虎;谢凡;朱成 | 申请（专利权）人 | 泰晶科技股份有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 441300湖北省随州市曾都经济开发区 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 一种双工位晶片自动测试分选机，包括基座箱，其特征在于：所述基座箱的顶板上设置有圆盘振动上料器、工位切换机构、双工位取料机构和双工位卸料机构，所述工位切换机构包括左侧圆盘、右侧圆盘和支架，左侧圆盘和右侧圆盘底部中心分别安装有驱动其旋转的旋转气缸，左侧圆盘和右侧圆盘上间隔设置有若干个晶片放置座，左侧圆盘和右侧圆盘的四周设置有数个不同功能的晶片测试装置，所述左侧圆盘和右侧圆盘之间的基座箱顶板上设置有晶片投放孔，所述基座箱的箱体内安装有晶片收纳装置，所述晶片收纳装置位于晶片投放孔的正下方。本发什么结构简单、集成度高、成本低、测试分选效率高。 |
