一种射频集成电路近场电磁兼容性测试管理方法和系统
基本信息
申请号 | CN202011637751.6 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN112834843A | 公开(公告)日 | 2021-05-25 |
申请公布号 | CN112834843A | 申请公布日 | 2021-05-25 |
分类号 | G01R31/00 | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 夏志杰;张志胜 | 申请(专利权)人 | 江苏南高智能装备创新中心有限公司 |
代理机构 | 南京协行知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人 | 蒋志栋 |
地址 | 210000 江苏省南京市江宁开发区将军大道37号翠屏科创园四层2423房 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明属于管理领域,针对现有技术中近场测试射频集成电路的电磁兼容新中的对外电磁干扰强度后,难以判断所测结果是否属于正常范围内的问题,提出一种射频集成电路经常电磁兼容性测试管理方法和系统;方法包括:获取目标集成电路的标准电磁分布信息;根据标准电磁分布信息,调整目标射频集成电路对应的探头和示波器的测试精度;采集示波器上的信号图像信息,并处理为当前电磁分布信息;计算标准电磁分布信息与当前电磁分布信息的相关值,在相关值低于预设值时,发出告警信息。 |
